Первая иллюстрация к книге Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы - Дэвид Уайтхауз

Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов). Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.