Инженерные основы измерений нанометровой точности: Ричард Лич

Fundamental Principles of Engineering Nanometrology

Рейтинг4.3(2 оценки)
0 рецензий

Аннотация

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Характеристики

Переводчик
Художник
Издательство
ID товара
431389 
ISBN
978-5-91559-119-5 
Язык
Русский 
Страниц
400 (Офсет)
Вес
510 г
Размеры
215x157x23 мм
Тип обложки
7Бц - твердая, целлофанированная (или лакированная) 
Иллюстрации
Черно-белые 
Все характеристики
Ожидается Ожидается
3 034
Рецензии на книгу
Читали книгу? Как она вам?
+50 ₽ за рецензию
Вы можете стать одним из первых, кто напишет рецензию на эту книгу, и получить бонус — до 50 рублей на баланс в Лабиринте!

Книги из жанра