Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы: Дэвид Уайтхауз
Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование скани
Полная аннотация
Автор
Издательство
Все характеристики
Аннотация
Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов).
Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.
Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.
Характеристики
Автор
Переводчик
Художник
Издательство
ID товара
431392
ISBN
978-5-91559-023-5
Язык
Русский
Страниц
472 (Офсет)
Вес
704 г
Размеры
217x156x31 мм
Тип обложки
7Бц - твердая, целлофанированная (или лакированная)
Иллюстрации
Черно-белые
Все характеристики
1 264
2 528
Библионочь 2025
-50%
Вы сэкономите
1264
Скидка 50%
1 264
2 528
3 акции по этому товару
Рецензии на книгу
Читали книгу? Как она вам?
+50 ₽ за рецензию
Вы можете стать одним из первых, кто напишет рецензию на эту книгу, и получить бонус — до 50 рублей на баланс в Лабиринте!
Книги из жанра

1 0622 124 -50% Еще 12 дней