Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы: Дэвид Уайтхауз

Рейтинг5(1 оценка)
0 рецензий

Аннотация

Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении, так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов).
Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.

Характеристики

ID товара
431392 
ISBN
978-5-91559-023-5 
Язык
Русский 
Страниц
472 (Офсет)
Вес
704 г
Размеры
217x156x31 мм
Тип обложки
7Бц - твердая, целлофанированная (или лакированная) 
Иллюстрации
Черно-белые 
Все характеристики
1 264
2 528
Инфо
Библионочь 2025
-50%
Вы сэкономите
1264
Скидка 50%
1 264
2 528
Рецензии на книгу
Читали книгу? Как она вам?
+50 ₽ за рецензию
Вы можете стать одним из первых, кто напишет рецензию на эту книгу, и получить бонус — до 50 рублей на баланс в Лабиринте!

Книги из жанра