Сканирующие зондовые микроскопы: Валерий Казаков
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко
Полная аннотация
Издательство
Все характеристики
Аннотация
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях.
Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.
Характеристики
Издательство
ID товара
979686
ISBN
978-5-9729-1731-0
Язык
Русский
Страниц
108 (Офсет)
Вес
240 г
Размеры
217x155x10 мм
Тип обложки
7Бц - твердая, целлофанированная (или лакированная)
Иллюстрации
Цветные
Все характеристики
1 262
Рецензии на книгу
Читали книгу? Как она вам?
+50 ₽ за рецензию
Вы можете стать одним из первых, кто напишет рецензию на эту книгу, и получить бонус — до 50 рублей на баланс в Лабиринте!